掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。

掃描電鏡的優點是，①有較高的放大倍數，2-20萬倍之間連續可調；②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構；③試樣制備簡單。 目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時進行顯微組織形貌的觀察和微區成分分析，因此它是當今十分有用的科學研究儀器。

進口ICP光譜儀：德國斯派克ICP光譜儀一臺配備一整套工廠方法的 ICP-OES（亦稱ICP-AES或ICP等離子）光譜儀——真正“即插即分析"，無需首先開發方法。這些工廠方法涵蓋所有常見的環境和工業應用，如水、廢水、工業廢水、土壤、下水道淤泥、濾塵、油品中的磨損金屬和添加劑。

SPECTRO GENESIS ICP-OES符合國家和國際標準，提供開箱可用的應用包，包括進樣系統、樣本品制備指導和方法文件。斯派克提供一套擴展附件包，便于SPECTRO GENESIS進一步擴大其應用范圍。

SPECTRO GENESIS ICP-OES（亦稱ICP-AES或ICP等離子光譜儀）是順序型ICP和原子吸收光譜儀的真正經濟替代產品，使不熟悉ICP的用戶從CCD ICP技術優勢中獲益，而且能夠使用一套強大、低成本和人性化的分析系統。

斯派克全面ICP-OES產品系列中的其他光學發射光譜儀包括：SPECTROBLUE和SPECTRO ARCOS。